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日本三豐Mitutoyo物鏡白光干涉光學單元

日本三豐Mitutoyo物鏡白光干涉光學單元 WLI-Unit利用白光干涉的非接觸式高精度精細表面紋理測量→3D形狀測量、3D粗糙度測量高度測量精度與光學放大倍數無關即使使用低倍率鏡頭也可進行高 Z ...

三豐Mitutoyo三坐標高精度CNC型三次元

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三豐Mitutoyo正規(guī)授權數顯壓接高度千分尺

三豐Mitutoyo正規(guī)授權數顯壓接高度千分尺 342-271-30 CHM-MX測量范圍（mm）：0～20最小顯示量（mm）：0.001用于壓接端子的壓接高度測量。

機械壓接高度千分尺日本三豐廈門代理

機械壓接高度千分尺日本三豐廈門代理 142-402 CHM-K測量范圍（mm）：0～25最小顯示量（mm）：0.01用于壓接端子的壓接高度測量。

模擬壓接高度千分尺日本三豐mitutoyo授權

模擬壓接高度千分尺日本三豐mitutoyo授權 112-401 CHM測量范圍（mm）：0～25最小顯示量（mm）：0.01用于壓接端子的壓接高度測量。

Canseam 千分尺日本三豐mitutoyo授權

Canseam 千分尺日本三豐mitutoyo授權 147-103 CSM測量范圍（mm）：0～13分度值（毫米）：0.01用于測量罐邊緣的寬度、高度和深度。

數顯直刃測微儀日本三豐mitutoyo授權

數顯直刃測微儀日本三豐mitutoyo授權 422-411-20 BLM-QMX測量范圍（mm）：0～30最小顯示量（mm）：0.001測量面為刀片式，可讓您輕松、準確地測量圓形物體上窄槽的直徑。

數顯直刃測微儀日本三豐千分尺

數顯直刃測微儀日本三豐千分尺 422-230-30 BLM-MX測量范圍（mm）：0～25最小顯示量（mm）：0.001測量面為刀片式，可讓您輕松、準確地測量圓形物體上窄槽的直徑。

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千分尺模擬直刃測微儀日本三豐福建代理 122-101 BLM測量范圍（mm）：0～25最小顯示量（mm）：0.01測量面為刀片式，可讓您輕松、準確地測量圓形物體上窄槽的直徑。

數顯直刃測微儀日本三豐mitutoyo授權

數顯直刃測微儀日本三豐mitutoyo授權 422-411 BLM-QM測量范圍（mm）：0～30最小顯示量（mm）：0.001測量面為刀片式，可讓您輕松、準確地測量圓形物體上窄槽的直徑。